Tildelt
Officiel offentlig bekendtgørelse
Atomic Force Microscope (AFM)
- Ordregivende myndighed
- Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften (Garching)
- Placering
- Garching, Tyskland
- Bekendtgørelsestype
- can-standard
- Kontrakttype
- Varer
- Procedure
- open
- Offentliggjort
- 23. okt. 2026
- CPV-kategori
- 38000000 Laboratorieudstyr, optisk udstyr og præcisionsudstyr (ikke briller)
Beskrivelse
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.
Læs denne bekendtgørelse på dit sprog
Originalsprog: tysk. Teksten ovenfor er den oprindelige bekendtgørelse.
Der findes ingen oversættelse af denne bekendtgørelse på dette sprog.
En oversættelse hjælper dig med at læse en bekendtgørelse. Den har ingen juridisk værdi: kun den oprindelige officielle bekendtgørelse gælder.