Ανατέθηκε
Επίσημη δημόσια γνωστοποίηση
Atomic Force Microscope (AFM)
- Αναθέτουσα αρχή
- Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften (Garching)
- Τοποθεσία
- Garching, Γερμανία
- Τύπος γνωστοποίησης
- can-standard
- Τύπος σύμβασης
- Αγαθά
- Διαδικασία
- open
- Δημοσιεύθηκε
- 23 Οκτ 2026
- Κατηγορία CPV
- 38000000 Εξοπλισμός εργαστηριακός, οπτικός και ακριβείας (εκτός από γυαλιά)
Περιγραφή
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.
Διαβάστε αυτή την προκήρυξη στη γλώσσα σας
Αρχική γλώσσα: γερμανικά. Το παραπάνω κείμενο είναι η αρχική προκήρυξη.
Δεν υπάρχει μετάφραση αυτής της προκήρυξης σε αυτή τη γλώσσα.
Η μετάφραση βοηθά στην ανάγνωση μιας προκήρυξης. Δεν έχει νομική αξία: ισχύει μόνο η αρχική επίσημη προκήρυξη.