Ratkaistu Virallinen julkinen ilmoitus

Atomic Force Microscope (AFM)

Hankintayksikkö
Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften (Garching)
Sijainti
Garching, Saksa
Ilmoituksen tyyppi
can-standard
Sopimustyyppi
Tavarahankinnat
Menettely
open
Julkaistu
23.10.2026
CPV-luokka
38000000 Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja)

Kuvaus

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.

Lue tämä ilmoitus omalla kielelläsi

Alkuperäinen kieli: saksa. Yllä oleva teksti on alkuperäinen ilmoitus.

Tälle ilmoitukselle ei ole käännöstä tällä kielellä.

Käännös auttaa lukemaan ilmoituksen. Sillä ei ole oikeudellista arvoa: vain alkuperäinen virallinen ilmoitus on pätevä.