Sõlmitud
Ametlik avalik teade
Atomic Force Microscope (AFM)
- Hankija
- Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften (Garching)
- Asukoht
- Garching, Saksamaa
- Teate liik
- can-standard
- Lepingu liik
- Asjad
- Menetlus
- open
- Avaldatud
- 23. okt 2026
- CPV-kategooria
- 38000000 Laboriseadmed, optika- ja täppisinstrumendid (v.a klaasid)
Kirjeldus
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.
Lugege seda teadet oma keeles
Originaalkeel: saksa keel. Ülaltoodud tekst on algne teade.
Selle teate tõlget ei ole selles keeles saadaval.
Tõlge aitab teadet lugeda. Sellel ei ole õiguslikku väärtust: kehtib ainult algne ametlik teade.