Attribué Avis public officiel

Atomic Force Microscope (AFM)

Pouvoir adjudicateur
Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften (Garching)
Lieu
Garching, Allemagne
Type d'avis
can-standard
Type de marché
Fournitures
Procédure
open
Publié le
23 oct. 2026
Catégorie CPV
38000000 Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)

Description

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.

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