Mogħtija
Avviż pubbliku uffiċjali
Atomic Force Microscope (AFM)
- Awtorità kontraenti
- Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften (Garching)
- Post
- Garching, Il-Ġermanja
- Tip ta' avviż
- can-standard
- Tip ta' kuntratt
- Provvisti
- Proċedura
- open
- Ippubblikat
- 23 Ott 2026
- Kategorija CPV
- 38000000 Tagħmir tal-laboratorju, ottiku u ta' preċiżjoni (minbarra nuċċalijiet)
Deskrizzjoni
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.
Aqra dan l-avviż bil-lingwa tiegħek
Lingwa oriġinali: Ġermaniż. It-test ta' hawn fuq huwa l-avviż oriġinali.
Ma hemm l-ebda traduzzjoni ta' dan l-avviż b'din il-lingwa.
Traduzzjoni tgħinek taqra avviż. M'għandha l-ebda valur legali: l-avviż uffiċjali oriġinali biss jgħodd.