Oddan
Uradno javno obvestilo
Atomic Force Microscope (AFM)
- Naročnik
- Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften (Garching)
- Lokacija
- Garching, Nemčija
- Vrsta obvestila
- can-standard
- Vrsta naročila
- Blago
- Postopek
- open
- Objavljeno
- 23. okt. 2026
- Kategorija CPV
- 38000000 Laboratorijska, optična in precizna oprema (razen očal)
Opis
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.
Preberite to objavo v svojem jeziku
Izvirni jezik: nemščina. Zgornje besedilo je izvirna objava.
Prevod te objave v ta jezik ni na voljo.
Prevod pomaga pri branju objave. Nima pravne veljave: velja samo izvirna uradna objava.